ATE(半导体测试分选机)

Burn-In Sorters

  • M850A
    M850A
    • 与生产性相比,设备价格竞争力优秀。
    • BIB Turn Table (可旋转-90°)
    • 托盘逆插入防止功能
    • 可BIB ID read
    • (Electric & BCR type均可使用)
    아이템 제품사양
    도킹 방식 (Docking Type) 수직 도킹 테스트 핸들러
    (Vertical Docking Test Handler)
  • M850i
    M850i
    · 可BIB ID read
    · (Electric & BCR type 均可使用)
    · 通过BIB & C-Tray的Vision检查,提升效率。
    Spec
    아이템 제품사양
    도킹 방식 (Docking Type) 수직 도킹 테스트 핸들러
    (Vertical Docking Test Handler)
  • M850S
    M850S
    · JEDEC tray + Tube(Metal) loading & unloading 均可使用
    · 可BIB ID read
    · (Electric & BCR type均可使用)
    Spec
    아이템 제품사양
    도킹 방식 (Docking Type) 수직 도킹 테스트 핸들러
    (Vertical Docking Test Handler)
  • MB8i
    MB8i
    • JC-Tray/BIB视觉检测系统
    • 自动学习功能
    • 自动对齐功能
    • 动力恢复功能
    • TAL 功能选项
    • BIB ID读取功能(适用于电动及BCR类型)
    • 自动小车对接系统:双小车对接选项
    • 采用以太网通信方式
    • UPH: Up to 15,000
    • Parallelism: 10 Para
    아이템 제품사양
    도킹 방식 (Docking Type) 수직 도킹 테스트 핸들러
    (Vertical Docking Test Handler)
  • MB8SST
    MB8SST
    • 兼容 JEDEC 托盘 + 管式(塑料/金属)装卸
    • 条形送纸器
    • BIB ID 条码读取功能(适用于一维和二维条码)
    • 设备二维 ID 读取器
    • C 型托盘设备防抬升功能
    • 以太网通信方式
    • 处理速度:高达 15,000 件/小时
    • 并行度:8 路并行
    아이템 제품사양
    도킹 방식 (Docking Type) 수직 도킹 테스트 핸들러
    (Vertical Docking Test Handler)
  • MB10SM
    MB10SM
    • BIB间距校正功能(激光)
    • BIB ID条形码读取功能(支持1D/2D)
    • 自动台车对接系统:双台车对接选项
    • C-Tray/BIB视觉检测系统选项
    • GFM:接地电阻实时监控功能
    • 多批次功能
    • 采用以太网通信方式
    • UPH:最高15,000
    • 并行度:10 Para
    아이템 제품사양
    도킹 방식 (Docking Type) 수직 도킹 테스트 핸들러
    (Vertical Docking Test Handler)