ATE(半导体测试分选机)
Memory Test HandlerBurn-In SortersBurn-In Sorter OptionsApplication Test HandlerLogic Test HandlerModule Test HandlerAuto ScrapChiller
Module Test Handler
MR7500
高性能 & 高生产性
- Tri-temp 控制 : -10℃ ~ +125℃
- 最大 16 parallel Test(16 *para 1 step / 8 para 2 steps)
- 处理量(Throughput) : 2,000 UPH
高度通用性
- 通用接口配套 : T5365, T5581, T5591, AL6080, AL6090, HP95000 etc
- 多种模块测试 : 72 ~ 240 pins DIMM/RIMM
