ATE (반도체 핸들러)

Module Test Handler

  • MR7500
    MR7500

    고성능 & 높은 생산성

    • Tri-temp 제어 (-10C ~ +125C)
    • 최대 16 parallel Test(16 *para 1 step / 8 para 2 steps)
    • 처리량(Throughput) : 2,000 UPH

    높은 범용성

    • 범용 인터페이스 키트 : T5365, T5581, T5591, AL6080, AL6090, HP95000 etc
    • 다양한 모듈 테스트 : 72 ~ 240 pins DIMM/RIMM
    아이템 제품사양
    도킹 방식 (Docking Type) 수직 도킹 테스트 핸들러
    (Vertical Docking Test Handler)
  • MM32
    MM32

    R-DIMM, SO-DIMM, CMM 겸용 32Para Test Handler는 다양한 메모리 모듈(R-DIMM, SO-DIMM, CMM)을 하나의 장비에서 검사할 수 있는 32병렬(32 Parallel) 고속 테스트 핸들러

    • R-DIMM, SO-DIMM, CMM(CXL) 겸용 32Para Test Handler
    • 수평식 / Direct Contact 방식
    • PARA : DIMM(R/S) 32P / CMM 8P

    주요 특징

    • R-DIMM, SO-DIMM, CMM(CXL) 통합 검사 지원
    • 32 Parallel 동시 테스트로 높은 생산성 확보
    • 다양한 메모리 모듈에 대한 호환성 제공
    • 고속·고정밀 검사 구현
    • 생산 효율 향상 및 검사 비용 절감
    • NON COK 방식으로 Conversion 타임 최소화
    아이템 제품사양
    도킹 방식 (Docking Type) 수직 도킹 테스트 핸들러
    (Vertical Docking Test Handler)